Difratômetro de Raios X, X’Pert (PANALYTICAL)

Equipamento de difração de raios X é um instrumento utilizado para analisar a estrutura cristalina de materiais. Ele opera com base no fenômeno da difração de raios X, que ocorre quando feixes de raios X interagem com a estrutura regular e periódica de um cristal, ou até mesmo de um material amorfo. O modelo X’Pert (PANALYTICAL) existente na FCA possui fonte de radiação Cu-K alfa (λ= 1,5406 Å) e toda óptica para analises dos mais diversos materiais em temperatura ambiente. O detector é ultrarrápido possibilitando analises em tempos pequenos, em resoluções de 0,01°.

• Localização: LD03 (Laboratório de Materiais)

• Docente responsável: Alessandra Cremasco